測(cè)厚儀的主要類(lèi)別
1、激光測(cè)厚儀：是一種非接觸式動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器，利用激光的反射原理，按照光學(xué)截面法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀。可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工控機(jī)連接，快速處理數(shù)據(jù)，輸出偏差值至各種工控設(shè)備。
2、X射線測(cè)厚儀：當(dāng)X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線強(qiáng)度的變化與材料的厚度有關(guān)，因此測(cè)量材料的厚度，是一種非接觸式動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x。它以PLC和工控機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并將目標(biāo)偏差值輸出到軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，以達(dá)到所需的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬帶箔加工，冶金行業(yè)帶材加工。
3、紙張測(cè)厚儀：適用于測(cè)量4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板等片材的厚度。
4、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)量薄膜、片材等材料的厚度。測(cè)量范圍寬，測(cè)量精度高。
5、超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理測(cè)量厚度的。當(dāng)探頭發(fā)出的超聲波脈沖穿過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料界面時(shí)，脈沖被反射回探頭。在材料中傳播的時(shí)間，以確定被測(cè)材料的厚度。該原理可用于測(cè)量各種能使超聲波在其內(nèi)部勻速傳播的材料。
6、X射線測(cè)厚儀：適用于以鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)。可與軋機(jī)配套，用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，X射線測(cè)厚儀還可用于冷軋、箔軋和一些熱軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中板厚的自動(dòng)控制。
7、涂層測(cè)厚儀：涂層厚度采用電磁感應(yīng)法測(cè)量。當(dāng)探頭與鐵磁材料相互作用時(shí)，位于零件表面的探頭會(huì)形成一個(gè)閉合磁路如果它們之間的距離發(fā)生變化，磁路會(huì)發(fā)生不同程度的變化，從而引起磁阻和探頭線圈電感的變化。這個(gè)原理可以用來(lái)測(cè)量探頭與鐵磁材料之間的距離，即涂層的厚度。
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